奥林巴斯材料显微镜是观察材料表征的重要技术手段之一

　　奥林巴斯材料显微镜是观察材料表征的重要技术手段之一，应用范围广、样品制备简单、图像景深大等优点，因而在材料表征中发挥着越来越重要的作用。通过在不同操作条件下对不同类型样品的观察，系统研究了仪器条件如扫描电镜电子枪类型、操作条件如灯丝电压和工作距离、样品制备方法如生物样品和非导电样品的预处理方法等因素对SEM图像质量的影响。

 

　　研究表明，要获得高质量的SEM形貌像，奥林巴斯材料显微镜必须做以下几点：
 

　　(1)选择合适的仪器是前提。对于观察纳米尺度的样品必须选择场发射电镜，因为只有场发射电镜才具有纳米分辨率。
 

　　(2)采取有针对性的制样方法是关键。对于生物样品，必须进行冷冻干燥，对于导电性差的样品则必须镀导电膜。
 

　　(3)选择适当的观察条件是核心。应根据样品类型和特点调整灯丝电压、工作距离、对比度和亮度等参数。
 

　　(4)细心操作是保证。只有仪器操作者耐心细致的操作才能获得清晰简洁、信息丰富和富有美感的图像。
 

　　在复合材料的薄膜制备中，为了提高纳米晶的TEM表征质量，通过在水/气两相界面上铺展纳米晶/聚合物复合单层膜的方法，制备了质量较高的TEM样品.对于水相纳米晶采用表面活性剂再包覆的方法，将其转移到油相.与传统制样方法(尤其是水相合成纳米晶)相比，嵌入聚合物膜中的纳米晶更容易分散(受到空间位阻与分子间弱相互作用等因素的影响)，并且聚合物膜可以自支持在空的铜网上，从而提高了TEM照片的清晰度。研究了系统中聚合物、纳米晶、表面活性剂和溶剂的种类及配比关系对于样品和成像质量的影响，结果表明，该方法对各种金属及半导体纳米晶的TEM表征具有一定的普适性。